北京香柏树科技有限公司

BC3193 半导体分立器件测试系统

一、设备用途及主要测试对象 　　二管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻。 　　三管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVC、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、IC、IEBO、VC、VB、HFE. 　　可控硅：IGT、IH、IL... ...

BC3199模数混合集成电路测试系统

BC3199测试系统技术指标： 　　一、电压测量/模数转换（QVM）： 　　差分电压隔离输入（DC/AC），峰值检出 　　电压测量量程：200mV，2V，5V，10V，20V，50V 　　16位ADC X 4（16 X 256 X 4数据缓存） 　　量程分... ...

HLTC-128半导体分立器件高低温老化巡测系统

产品说明： 　　一、系统组成 　　1.巡测控制器 　　2.128管位老化插座板 　　3.Espec高低温箱（自选） 　　 　　二、巡测控制器的原理框图如下： 　　巡测控制仪有手动和程控两种使用方式。手动方式通过控制器上... ...